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絕緣高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

型 號GDAT-A

更新時間2023-08-06

廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家

報價

產(chǎn)品描述:絕緣高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

產(chǎn)品概述

絕緣高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀裝置:

2.3.1 平板電容器極片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4

 

 

 

絕緣高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標:

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

工作頻率范圍:50kHz~50MHz    四位數(shù)顯,壓控振蕩器

Q值測量范圍:1~1000三位數(shù)顯,±1Q分辨率

可調(diào)電容范圍:40~500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差:±1%±1pF

Q表殘余電感值:約20nH

 

 

 

 

特點: 

◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

 

 

直接測量范圍

1~460p

主電容調(diào)節(jié)范圍

40~500pF

準確度

150pF以下±1.5pF;

150pF以上±1%

 

頻率范圍

25kHz~10MHz

固有誤差

≤5%±滿度值的2%

工作誤差

≤7%±滿度值的2%

頻率范圍

10MHz~60MHz

固有誤差

≤6%±滿度值的2%

工作誤差

≤8%±滿度值的2%

 

工作特性

   1.Q值測量

  a.Q值測量范圍:2~1023;

  b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;

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